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 磁粉探傷試験の原理と手順


割れなどが存在すると予想される強磁性体の試験体を磁化すると、強磁性体は磁石になるため、割れの部分は小さな磁石になる。この磁石になった割れの部分に強磁性体の微粉末(磁粉という)を適用すると、磁粉は割れの部分に吸着される。磁粉同士は互いにつながって、割れの幅よりも拡大されるため、この模様(磁粉模様という)は割れの幅が狭いものでも肉眼で識別できるようになる。強磁性体の表面の色(または明るさ)と高いコントラストを持っている磁粉を用いると、磁粉模様はより識別しやすくなる。

強磁性体の試験体を磁石にし(磁化という)、磁粉を試験体の表面に散布し(磁粉の適用という)、割れなどのきずの部分に吸着されてできた磁粉模様を見つけ(観察という)、これを評価することで試験体の表面に存在するきずを検出する方法を磁粉探傷試験という。磁粉探傷試験においては、試験体表面に開口していなくても表面から2〜3o程度の深さにあるきずも検出可能である。また表層部にある割れ状のきずの検出に関し感度のよい非破壊検査手法である。

 磁粉探傷試験における基本操作として、試験体及び試験面の前処理、磁化操作、磁粉または検査液の適用、磁粉模様の形成とその観察、結果の記録そして脱磁などの後処理などがあげられる。

   (参考文献:日本非破壊検査協会、磁粉探傷試験T)