試験片 【非破壊検査】
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ネットショップ浸透探傷試験片
栄進化学は各種探傷試験用試験片も世界に供給しています。
目的に応じて各種試験片の中からお選びください。 なお、JISに規定された浸透探傷試験片についてはJIMA(日本検査機器工業会)から試験成績書が発行されています。探傷用試験片は、必要に応じて探傷剤の性能や操作方法の適否を調べるときに使われています。 豊富なノウハウを活かした試験片は、日本はもとよりヨーロッパやアメリカなど世界各国で広く認められています。先に改訂された JIS Z 2343-3 に規定された浸透探傷用各種対比試験片をはじめ、教育用、性能試験用としてその他の浸透探傷用、磁粉探傷用試験片も製作・輸入・販売しています。
■タイプ1試験片(JIS/ISO)
メッキ割れ試験片で、深さ50,30,20,10μmがあります。
JIMA(一社)日本検査機器工業会から試験成績書が発行されます。
■タイプ2試験片(JIS/ISO)
星割れと表面粗さの異なる面を持つ試験片です。
JIMA(一社)日本検査機器工業会から試験成績書が発行されます。
■タイプ3試験片(JIS)
24Sアルミ焼割れ試験片です。
JIMA(一社)日本検査機器工業会から試験成績書が発行されます。
■ASMEアルミ試験片(ASME)
2分割型で厚さ10mmです。
弊社からASME試験成績書が発行されます。
Hoffman TAM Panel
Hoffman TAM Panelは、ASTM E 1417によって定められたシステムチェックに使用される浸透探傷用テストパネルです。Pratt＆Whitney（TAM146040）、ロールスロイス（RRP-58003）で承認されており、品質、信頼性の高さから世界中の航空関連企業で使用されております。表面を鏡面のように研磨したP&W TAM 146040-1ポリッシュ、ブラスト加工したP&W TAM 146040-2グリットの2種類からお選びいただけます。5つの指示模様別の個別写真、パネル全体写真（実寸大写真）を記載した成績書、専用フォーム入りクリアケースが標準で付属します。
TAMパネルは、ASTM E 1417という規格に基づいて使用される特定のテストパネルです。ASTM E 1417は、ASTM International（American Society for Testing and Materials）が発行する規格で、「液体浸透探傷試験の標準的な手法」と題されています。この規格は、液体浸透探傷試験法を使用して材料の検査を行う際のガイドラインを提供しています。
TAMは「Test Accessory Material」の略であり、TAMパネルは一般的に、表面の欠陥や異常な領域を検出するための液体浸透剤の感度と性能を評価するために使用されます。これらのパネルは、浸透性材料の評価と認定に役立ちます。
TAMパネルは別名「PSM-5（Penetrant System Monitoring Panel）」とも呼ばれています。
磁粉探傷試験用 標準試験片（JIS Z 2320-1）
JIS A形・C形標準試験片（(社)日本非破壊検査協会検定品）
標準試験片は、磁粉探傷の性能を評価し、金属部品や構造物の表面に微小な欠陥や割れを検出するための道具であり、探傷結果の正確さを向上させる技術です。
試験片を使用することで、磁粉探傷の感度や精度を客観的に評価することができます。また、磁粉探傷の性能に影響を与える要素を調べることも可能です。たとえば、使用する装置や磁粉、検査液の性能や、磁場の強さと方向、試験操作の適否などが評価されます。
A型標準試験片は、特定の欠陥の方向を確実に表示するために使用されます。欠陥が特定の方向にある場合、磁粉の模様が特定のパターンとなります。この模様が明確に表示されることで、探傷の精度を保つことができます。試験片では、磁化方法や磁化電流の値、磁粉の適用法や検査液中の磁粉の濃度などが調整されます。
試験片は純鉄の薄板で作られており、片面に溝が設けられています。試験片は、溝の深さや板の材質、厚さによっていくつかの種類に分類されます。
目的に応じて各種試験片の中からお選びください。
A型標準試験片
A1 及び A2 型標準試験片の型番は、斜線の左側が人工きずの 深さを斜線の右側が板の厚さを示しています。（単位：µm）
例）A1 7/50 ： A1(試験片) (きず深さ)7μm / (試験片厚さ)50μm
- A1 7/ 50 (円形または直線形) ※直線形は受注生産
- A1 15/ 50 (円形または直線形)
- A1 30/ 50 (円形または直線形) ※直線形は受注生産
- A1 15/100 (円形または直線形)
- A1 30/100 (円形または直線形)
- A1 60/100 (円形または直線形) ※円形は受注生産
- A2 7/ 50 (直線形) ※受注生産
- A2 15/ 50 (直線形) ※受注生産
- A2 30/ 50 (直線形) ※受注生産
- A2 15/100 (直線形) ※受注生産
- A2 30/100 (直線形)
- A2 60/100 (直線形) ※受注生産
C型標準試験片
C 型標準試験片は、寸法的に A 型標準試験片の適用が困難な場合(溶接部の開先面などの狭い部分など)に使用します。
- C1 8/50
※受注生産の試験片は納品までに数ヶ月を要することがございます。太字は標準品です。
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ASTM ケトスリング試験片
ケトスリングは、磁粉検査システムの総合的な性能をチェックするために使用されます。
ケトスリングは直径5インチ、厚さ0.875インチで、中央に直径1¼インチの穴があります。このブロックには、外径表面から0.070、0.140、0.210、0.280、0.350、0.420、0.490、0.560、0.630、0.700、0.770、および0.840の距離に、直径0.070の穴（12個）があります。
各ブロックには、以下の内容が記載された認証レポートが付属しています：
- AISI O-1工具鋼から製造されたリングであることを示す材料試験レポート。
- 製造後にSAE-AS5282に準拠して完全に焼なまし状態に熱処理されたことを証明する認証書。
- ロックウェルBで報告された実測硬度。
- 個別の磁束漏れプロットで、磁界強度と穴の測定距離の関係が示されています。
- MIL-STD-1949A、ASTM E1444、McDonnell Douglas P.S. 21201、DPS 4.704、およびSAE AS5282のすべての要求を満たします。
シム試験片Quantitative Quality Indicators (QQIs)
シム試験片は、磁粉探傷器（磁化装置）の日常的な性能確認に使用される試験片です。この試験片は、磁束の方向と相対的な強さを確認するために利用されます。AS 5371（Reference Standards Notched Shims for Magnetic Particle Inspection）に規定された寸法でノッチ（切り傷）が施されており、試験片が30ガウス以上に磁化されたときに指示模様が出るように設計されています。シム試験片は、磁粉探傷の精度向上や検査プロセスの品質管理、検査結果の一貫性や信頼性を向上させることが可能となります。
シム試験片は、薄くて柔軟性があり、試験片の形状にフィットします。テープや接着剤で試験片に添付して使用します。
① 規格 ：ＡＳＴＭ Ｅ １４４４
② 種類 ：ＣＸ－２３０ 円形と十字形の切り欠き、シム厚さ５０μｍ厚 傷深さシムの厚みの 30%
ＣＸ－４３０ 円形と十字形の切り欠き シム厚さ１００μｍ厚 傷深さシムの厚みの 30%
ＣＸ4－2３０ 4 つの円形と十字形の切り欠きシム厚さ５０μｍ厚- 傷深さシムの厚みの 30%
ＣＸ4－４３０ 4 つの円形と十字形の切り欠きシム厚さ１００μｍ厚 傷深さシムの厚みの 30%
③ 試験成績書：メーカー作成のものを添付します。
ASME パイフィールドインジケータ
パイフィールドインジケータ/パイゲージは、磁束の有無を確認し、磁束の方向を判断することができます。
証明書、ベルトクリップ付きケースが付属しています。
対応規格
ASME BPVC Sec.V、ASTM E 709、ASTM E 1444、MIL-STD 271＆1949、NAVSHIPS 250-1500-1他
超音波探傷用試験片
探傷用試験片には、大別して3つの使用目的があります。
- 測定範囲
- 探傷感度の調整
- 性能特性の調整
目的に応じて各種試験片の中からお選びください。
超音波探傷試験用 標準試験片（JIS Z 2345-1 ～ JIS Z 2345-4）
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反射源の位置の測定に必要な時間軸の調整および測定範囲の調整: 試験片を使用して、超音波探傷装置の時間軸を調整し、反射源の位置を正確に測定します。また、測定範囲を適切に調整することで、探傷の範囲を最適化します。
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反射源からのエコー高さの測定に必要な調整および探傷感度の調整: 試験片を使用して、超音波探傷装置の設定を調整し、反射源からのエコーの高さを正確に測定します。また、探傷感度を調整することで、微小な欠陥や異常をより確実に検出できるようにします。
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探傷装置の点検に必要な探傷装置の特性と性能の点検および性能特性の測定: 試験片を使用して、超音波探傷装置の特性や性能を点検し、正常に機能しているかどうかを確認します。性能特性の測定により、装置の性能を評価し、必要に応じて調整や修理を行います。
G型標準試験片 (垂直)
(探傷感度の調整・垂直探触子の特性の測定・探傷器の総合性能の測定)
- STB-G V15-1
- STB-G V15-1.4
- STB-G V15-2
- STB-G V15-2.8
- STB-G V15-4
- STB-G V15-5.6
- STB-G V2
- STB-G V3
- STB-G V5
- STB-G V8
- STB-G セット(上記各1枚ずつ)
N1型標準試験片 (垂直)
(探傷感度の調整)
- STB-N1
A1型標準試験片 (垂直及び斜角)
(斜角探触子の特性の測定・入射点及び屈折角の測定・測定範囲の調整・探傷感度の調整)
- STB-A1
A2型標準試験片 (斜角)
(探傷感度の調整・探傷器の総合性能の測定)
- STB-A2
- STB-A21
- STB-A22
A3型標準試験片 (斜角)
(斜角探触子の入射点及び屈折角の測定・測定範囲の調整・探傷感度の調整)
- STB-A3
- STB-A31
- STB-A32
- STB-A7963
超音波厚さ計用対比試験片 JIS Z 2355
- RB-T (厚さ2.0・1.5・1.0・0.8 ±0.05mm)
その他試験片
JIS Z 2329に定める発泡液の性能を調べるためのもので、使用発泡液が既定の発泡圧力（大気圧との差圧、5×103Pa）以下で発泡することを確認する試験片です。試験片を小孔（φ5mm）をあけた容器または試験板の小孔をふさぐように粘着アルミ箔テープを用いて取り付け、加圧法の場合、順次加圧しながら試験片の孔から発泡が生じる最低発泡圧力を確認します。また、真空法の場合、試験片を貼り付けた試験板を真空箱で覆い真空排気を行い、試験片の孔から発泡が生じる最低発泡圧力を確認します。
目的に応じて各種試験片の中からお選びください。
発泡漏洩試験片
